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SCREEN VM-1020顯微鏡式光學干涉膜厚測量儀，這是一款專為研發（R&D）設計的顯微鏡型測量設備，旨在提供高精度、高速度的薄膜厚度分析解決方案。

SCREEN OLED/液晶/半導體晶圓檢測用干涉儀VM-1020，這是一款專為研發（R&D）設計的顯微鏡型測量設備，旨在提供高精度、高速度的薄膜厚度分析解決方案。

SCREEN 光干涉膜厚儀 2-12寸晶圓通用VM-1020，這是一款專為研發（R&D）設計的顯微鏡型測量設備，旨在提供高精度、高速度的薄膜厚度分析解決方案。

Luna干涉儀MICRON OPTICS FFP-I picoWave FFP-I1310-040M06502.5063，該產品為光纖法布里-珀羅的干涉儀，主要用于光通信波分復用、光譜分析及傳感。適用于電信、光纖傳感、激光雷達及科研等領域，實現波長鎖定、濾波及精密測量。

日本fujifilm 激光干涉儀G102 內置變焦鏡頭可以測量小直徑物體 憑借 8.6 倍變焦，它也能處理小零件。 緊湊、節省空間、輕松遙控操作（對焦、光強度調節、對準切換、變焦） 1.φ102mm高精度平板（玻璃、金屬、陶瓷等）的平面度測量和透射波前測量。 2.內置變焦鏡頭可以測量小直徑物體。 3.通過更換準直透鏡*，可以測量直徑達 150mm 的物體。

日本fujifilm 小型激光干涉儀F601 非接觸式判斷各種球形物體合格/不合格 緊湊而獨的特的對準機制使您能夠快速找到反射光，從而減少測量時間。 1.φ60mm高精度平板（玻璃、金屬、陶瓷等）的平面度測量和透射波前測量。 2.通過與光束壓縮器（2倍放大鏡頭）組合使用，甚至可以測量小物體（約φ5mm至φ25mm）。 3.如果要測量低反射率（約0.1%）的被攝體，可修改為超低反射率測量。