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產品分類山田光學半導體晶圓劃痕拋光不均霧狀檢查燈 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學工業YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應用于半導體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環節,用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時間:2026-07-09山田光學 晶圓硅片碳化硅φ30-60異物檢查燈 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學工業YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應用于半導體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環節,用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時間:2026-07-09山田光學 黃光白光 雙光源鹵素檢查燈 YP-150I/YP-250I yamada-opt山田光學工業YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應用于半導體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環節,用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時間:2026-07-09日本山田光學YAMADA高照度鹵素強光燈 光源 YP-150I/YP-250I yamada-opt山田光學工業YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應用于半導體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環節,用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時間:2026-07-09山田光學 強光燈檢測晶圓表面硅渣 鹵素光源 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學工業YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應用于半導體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環節,用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時間:2026-07-09山田光學 yamada 高亮度鹵素落射照明裝置 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學工業YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應用于半導體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環節,用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時間:2026-06-18yamada-opt可見光鹵素同軸照明光源/LED燈 YP-150I YP-150ID YP-250I,yamada-opt山田光學工業YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應用于半導體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環節,用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時間:2026-07-09山田光學晶圓表面宏觀劃痕異物可見光檢查燈HPS-150 YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光學工業YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應用于半導體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環節,用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時間:2026-07-09山田YAMADA KOGAKU 二向色鏡(冷鏡)檢查燈 YP-150I YP-250I yamada-opt山田光學工業YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應用于半導體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環節,用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時間:2026-07-09YAMADA KOGAKU KOGYO可見光鹵素燈/光源 山田光學 YP-150I YP-250I yamada-opt山田光學工業YAMADA KOGAKU高輝度鹵素光源裝置,主要應用于半導體晶圓及液晶基板加工過程中的最終表面檢查環節,用于輔助檢測表面異物、劃痕、研磨不均、霧度及滑移等缺陷。
更新時間:2026-07-09